QINGDAO JZLEAP Semiconductor Co.,Ltd.

ICP-MS/MS (Espectrômetro de massa com plasma indutivamente acoplado): Detecção de íons metálicos;
Tropel (equipamento de medição de planicidade): Detecção de morfologia de substrato, TTV, Bow, Warp., etc .;
Napson (medidor de resistência): Medição de resistência do substrato;
CANDELA 8520 (detector de defeitos): detecção de defeitos de substrato, arranhões, partículas, poço, microtubos, etc.